在半導體與微電子行業中，精確的測量與定位是確保產品質量和生產效率的關鍵因素。光學尺，作為一種高精度的測量工具，正發揮著越來越重要的作用。
一、工作原理
光學尺，又稱光柵尺，是一種利用光學原理進行位移測量的裝置。它主要由標尺光柵和指示光柵組成，通過光的干涉和衍射現象實現微小位移的精確測量。當標尺光柵和指示光柵相對移動時，光電接收裝置會檢測到光信號的變化，從而確定位移量。
二、光學尺在半導體與微電子行業中的作用
晶圓定位：在半導體制造過程中，晶圓的精確位置對于后續的光刻、刻蝕等工藝至關重要。能夠提供高精度的位移測量，確保晶圓在各個工藝階段的準確定位。
精密設備的校準與調整：半導體設備中的許多部件需要精確校準和調整，以確保設備的正常運行和產品質量。可用于測量設備的微小位移和形變，為設備的校準和調整提供準確的數據支持。
薄膜厚度的監測：在半導體制造過程中，薄膜的厚度對產品的性能有著重要影響。可用于實時監測薄膜的生長厚度，確保產品質量的一致性。
高精度對準：在微電子產品制造中，各個部件之間的精確對準是實現高性能產品的關鍵。能夠提供高精度的對準測量，確保各個部件的精確對接。
自動化生產線的控制：半導體與微電子行業的自動化程度不斷提高，在自動化生產線中的應用也越來越廣泛。它可用于檢測物體的位置和運動狀態，實現自動化控制和定位。
